（已有1条评价）基本信息
内容简介
书籍
物理书籍
本书是“电子元器件质量与可靠性技术丛书”丛书之一，较全面地论述并介绍了电子元器件可靠性物理的基础知识和失效分析技术。全书分为四个部分。1、阐述了电子元器件失效分析中的理论基础，包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理。介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术。2、论述了失效的物理模型，介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术，以及用于失效分析的较先进的微分析技术。3、结合具体的元器件：微电子器件、阻容元件、继电器及连接器、光电子器件和真空电子器件，以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以剖析，提出了提高电子元器件可靠性的措施。4、阐述了元器件静电放电失效的原理和防护；元器件的辐射效应和抗辐射加固技术。
本书供从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员、质量和可靠性工作者学习与参考，也可供高等学校电子、电工、光电子、真空电子、材料和信息类等相关专业的师生阅读。
物理书籍
本书是“电子元器件质量与可靠性技术丛书”丛书之一，较全面地论述并介绍了电子元器件可靠性物理的基础知识和失效分析技术。全书分为四个部分。1、阐述了电子元器件失效分析中的理论基础，包括有关原子物理学、材料学、化学、冶金学及元器件的基本工作原理。介绍了与元器件失效相关的制造工艺和技术。2、论述了失效的物理模型，介绍了失效分析程序、常用的失效分析方法和技术，以及用于失效分析的较先进的微分析技术。3、结合具体的元器件：微电子器件、阻容元件、继电器及连接器、光电子器件和真空电子器件，以及元器件的引线和电极系统的失效模式和失效机理加以剖析，提出了提高电子元器件可靠性的措施。4、阐述了元器件静电放电失效的原理和防护；元器件的辐射效应和抗辐射加固技术。
本书供从事各类电子元器件的研制、生产和使用的科技人员、管理人员、质量和可靠性工作者学习与参考，也可供高等学校电子、电工、光电子、真空电子、材料和信息类等相关专业的师生阅读。
目录
绪论
0.1 信息时代与电子元器件
0.2 电子元器件的质量和可靠性
第1章 电子元器件的理论基础
1.1 固体及半导体导电理论简介
1.2 基础元件
1.3 pn结
1.4 晶体三极管
1.5 半导体表面概论
1.6 mos场效应晶体管（mosfet）
1.7 半导体的光-电子学效应
1.8 真空电子器件基础
1.9 相图
1.10 金属膜及金属化层
习题与思考题
第2章 电子元器件的技术基础
2.1 平面工艺与集成电路
2.2 氧化工艺
2.3 刻蚀技术
2.4 扩散法掺杂技术
0.1 信息时代与电子元器件
0.2 电子元器件的质量和可靠性
第1章 电子元器件的理论基础
1.1 固体及半导体导电理论简介
1.2 基础元件
1.3 pn结
1.4 晶体三极管
1.5 半导体表面概论
1.6 mos场效应晶体管（mosfet）
1.7 半导体的光-电子学效应
1.8 真空电子器件基础
1.9 相图
1.10 金属膜及金属化层
习题与思考题
第2章 电子元器件的技术基础
2.1 平面工艺与集成电路
2.2 氧化工艺
2.3 刻蚀技术
2.4 扩散法掺杂技术
