基于单片机的测试技术原理与应用

　　2.2.1　P0口电路结构及测试用途
　　2.2.2　P1口电路结构及测试用途
　　2.2.3　P2口电路结构及测试用途
　　2.2.4　P3口电路结构及测试用途
　　2.2.5　串行接口
　2.3　单片机测试的外围电路
　　2.3.1　拨动开关设置电路
　　2.3.2　按钮控制电路
　　2.3.3　驱动电路
　　2.3.4　锁存电路
　　2.3.5　显示电路
　2.4　时间测量　
　　2.4.1　定时器/计数器0、1工作原理
　　2.4.2　时间测量
　2.5　频率测量
　2.6　电压测量
　　2.6.1　V/F转换原理
　　2.6.2　V/F转换器
　　2.6.3　单片机V/F转换电压测量的原理
　　2.6.4　V/F转换电压自动测量系统
第3章　单片机通信技术
　3.1　串行通信原理
　　3.1.1　数据通信
　　3.1.2　串行通信方式　
　　3.1.3　单片机串行通信接口
　　3.1.4　单片机波特率发生器
　　3.1.5　串行通信总线标准
　3.2　单片机串行通信技术
　　3.2.1　单片机双机通信
　　3.2.2　单片机多机通信
　　3.2.3　单片机与PC通信
　　3.2.4　单片机与测试设备通信
　　3.2.5　单片机混合多机通信
第4章　基于单片机的测试系统
　4.1　单片机系统的扩展
　　4.1.1　程序存储器的扩展
　　4.1.2　数据存储器的扩展
　　4.1.3　程序、数据存储器同时扩展
　　4.1.4　I/O接口的扩展
　　4.1.5　串行接口扩展I/O接口
　4.2　测试系统的构成
　　4.2.1　被测对象
　　4.2.2　适配板
　　4.2.3　加载电源
　　4.2.4　单片机控制器
　　4.2.5　测试系统网络结构
　4.3　测试原理
　　4.3.1　通信协议　
　　4.3.2　测试方式
　　4.3.3　测试信息显示
　　4.3.4　测试软件设计
附录
　附录A　专用寄存器（SFR）一览表
　附录B　MCS－51系列单片机指令表
　附录C　ASCII（美国标准信息交换码）表
　附录D　汉字编码字符集（GB5007-2001）
参考文献