SOC/ASIC设计.验证和测试方法学

　　本书阐述设计系统芯片(soc)所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片(asic)的设计。 本书分两大部分：第一部分为1～5章，是本书方法学的主要内容；第二部分为6，7章，介绍实际的电子设计自动化(eda)工具和设计环境。第1章简述集成电路的发展，介绍国际半导体技术路线图，以及soc设计所面临的挑战。第2章阐述soc设计方法学，包括soc的模型、设计分层，介绍设计重用和虚拟插座接口技术。第3章阐述soc／asic验证方法学，包括功能验证、等价验证、静态分析验证、物理验证等。第4章阐述soc／asic测试方法学，介绍集成电路测试技术和可测试性设计方法。第5章介绍设计集成电路常用的硬件描述语言及其新发展，包括systemc，systemveri—log，openvera等语言。第6章介绍synopsys公司的eda系统，以及相应的ic设计和验证方法学。第7章给出一个philips s0c设计平台的实例。
　　 本书主要是面向进入ic设计领域工作的科技人员、相关专业大学生和研究生，以及对高新技术有兴趣、需要更新知识的人群。

第1章 绪论
1.1 集成电路工业发展里程碑
1.2 半导体技术发展路线图
1.3 集成电路设计驱动
1.4 soc设计挑战
参考文献
第2章 soc设计
2.1 soc模型
2.2 soc设计分层
2.3 soc系统设计
2.4 soc硬件设计
2.5 soc设计重用技术
2.6 s0c设计方法学
参考文献
第3章 soc／asic验证
3.1 验证技术概述
3.2 模拟
3.3 验证测试程序自动化
3.4 lint检验
3.5 静态时序分析