测量台架(JB/T 10009-2010代替JB/T 10009-1999)
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内容简介
本标准规定了测量台架的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志和包装等。
本标准适用于装夹分度值不小于0.05μm的比较仪(或比较仪的传感元件)的测量台架。
目录
前言[BR]1 范围[BR]2 规范性引用文件[BR]3 术语和定义[BR]4 型式与基本参数[BR]5 要求[BR] 5.1 外观[BR] 5.2 相互作用[BR] 5.3 微调[BR] 5.4 工作面表面硬度、表面粗糙度和材料.[BR] 5.5 工作面平面度和垂直度[BR] 5.6 变化量[BR] 5.7 附件[BR]6 检验方法[BR] 6.1 检查条件[BR] 6.2 检查项目、检查方法和检查工具[BR]7 标志与包装[BR]附录A(规范性附录)附件[BR] A.1 I型测量台架[BR] A.2 II型测量台架[BR] A.3 检查方法[BR]图1 I型测量台架[BR]图2 II型测量台架[BR]图3 III型测量台架[BR]图4 Ⅳ型测量台架[BR]图5 变化量局示意图[BR]图6 变化量.岛示意图