0绪论
0.1内容限定
0.2表面对纳米电子结构的影响
0.3占有态与未占有态
0.4纳米材料电子结构的过渡特征及簇的桥梁作用
0.5理论对纳米电子结构分析的支持
参考文献
1纳米材料电子结构的特点
1.1材料电子结构概述
1.1.1Bloch波函数
1.1.2是空间与能带结构
1.1.3Fermi能EF及Fermi分布函数F(正)
1.1.4状态密度
1.2表面电子态
1.2.1金属表面电子隧穿效应
1.2.2半导体表面能带弯曲
1.2.3金属氧化物表面缺陷及电子结构
1.3金属纳米簇电子结构
1.3.1纳米簇电子结构的过渡特性
1.3.2电子受限尺度
1.3.3势阱与电子能级
1.3.4尺寸与维数对纳米电子结构参数的影响
1.3.5金属纳米簇质谱图与Jellium模型
1.3.6“魔数”与纳米簇结构周期表
1.3.7金属纳米簇电离势
1.3.8金属纳米簇价带结构
1.3.9金属纳米簇极化率
1.3.10纳米簇质谱与Jellium模型适用性评估
1.3.11金属纳米粒子电中性及Coulomb阻塞
1.3.12簇尺寸诱导金属-绝缘体过渡
1.3.13金属纳米粒子之间的单电子传输
1.4半导体纳米粒子的电子结构
1.4.1基本概念与几个相关参数
1.4.2纳米Si电子结构
1.4.3Si纳米粒子的电子结构PES测定
1.4.4化合物半导体纳米粒子的电子结构
1.4.5激子
1.5纳米有机聚合物电子结构
1.5.1有机分子电子结构及PES谱
1.5.2聚乙炔分子结构及导电机制
1.5.3trans-(CH)xUPS测定
参考文献
2纳米材料表面电子结构表征方法
2.1引言
2.1.1电子结构的完整表述
2.1.2电子结构表征方法概述
2.2X射线光电子谱(XPS)
2.2.1原激发过程与XPS谱
2.2.2化学位移与占有态结构
2.2.3终态效应与电子结构
2.2.4XPS价带谱
2.2.5表面原子内能级物理位移
2.3紫外光电子谱
2.3.1价电子结构与紫外光电子谱
2.3.2角分辨紫外光电子谱测量
2.3.3表面态与UPS谱
2.3.4UPS测量时的几个问题
2.4自旋极化光电子谱
2.4.1方法简介
2.4.2铁磁性材料极化率
2.4.3非磁性材料极化率
2.5两光子光发射谱
2.5.1分子-电极界面
2.5.22PPE 工作原理
2.5.32PPE实验观测量
2.5.42PPE实验装置简介
2.5.5界面电子结构与2PPE谱
2.6反光电子谱
2.6.1反光电子发射实验
2.6.2表面想象势态
2.6.3Ge能带结构的完备表征
2.6.4CO分子吸附体
2.6.5金属-半导体界面态
2.7X射线吸收谱
2.7.1固体中X射线吸收和发射
2.7.2近边X射线吸收精细结构谱
2.7.3NEXAFS实验
2.7.4NEXAFS谱与空态结构
2.8固体拉曼光谱简介
2.8.1拉曼光谱基本原理
2.8.2激光拉曼谱仪
2.8.3数据分析和RS阐释
参考文献
3碳质纳米材料表面电子结构表征
3.1碳质纳米结构家族
3.2碳质薄膜特征与sp2、sp3杂化键分析
3.2.1拉曼光谱法
3.2.2XPS分析
3.2.3占有与未占有电子态SXEA测定
3.3a-C2H薄膜状态密度与sp2杂化碳原子空间结构
3.3.1a-C2H薄膜结构的复杂性与电子态
3.3.2a-C电极中C-H和C-O键问题
3.4a-C薄膜中sp杂化键
3.4.1a-C膜中Jjb杂化键测定
3.4.2a-C膜中sp杂化键的稳定性
3.5石墨电子结构
3.5.1基础知识
3.5.2单晶石墨能带结构ARUPS测量
3.5.3CKVV俄歇线形与层间轨道相互作用
3.5.4结构缺陷与电子传输
3.5.5石墨带宽
3.5.6石墨Csp2键修正与X射线吸收谱
3.5.7石墨π态密度与CK边XANES谱
3.6类金刚石薄膜电子结构综合表征
3.6.1EELS分析
3.6.2XPS分析
3.6.3D参数法
3.6.4NEXAFS分析
3.6.5UPS分析
3.7.1表面电阻率与拉曼谱
3.7.2逸出功与SKPM分析
3.7.3掺硼金刚石半导体氘化与传导特性转换
3.8富勒希电子结构表征
3.8.1C60构型及其分子固体结构简介
3.8.2几个原型富勒希分子固体UPS/EELS分析
3.8.3杂原子富勒希电子结构测定
3.8.4插入金属富勒希电子结构测定
3.9碳纳米管
3.9.1碳纳米管几何结构及其特征参数
3.9.2单壁碳纳米管的电子结构及传输特性
3.9.3单壁碳纳米管电子结构测定
3.9.4化学修筛SWCNT电子结构
参考文献
纳米异质界面电子结构分析
4.1有机分子膜/金属界面电子结构
4.1.1界面电子结构类型
4.1.2界面电子结构UPS分析
4.1.3界面电子结构UPS与IPES组合分析
4.1.4有机分子/金属界面2PPE分析
4.2SiO2/Si界面电子结构分析
4.2.1SiO2/Si界面化学结构表征
4.2.2SiO2/Si界面电子结构表征
4.2.3界面电子结构参数与SiO2膜介电常数
4.3负载金属纳米粒子的电子结构分析
4.3.1负载金属簇界面电子结构光发射分析
4.3.2负载金属簇局域状态密度STM/STS分析
4.3.3负载金属簇电子受激时的尺寸效应
4.3.4强金属载体相互作用(SMSl)分析
4.4双金属表面电子结构分析
4.4.1单层双金属样品制备及分析条件
4.4.2Ni/Pt(111)模型样品表面结构表征
4.4.3表面d带中心
4.4.4Ni/Pt(111)电子结构与表面化学
4.5纳米薄膜量子尺寸效应与光发射谱
4.5.1引百
4.5.2晶格匹配Ag/Au(111)和Au/Ag(111)体系
4.5.3晶格失配界面光发射测量
4.5.4原子平整界面光发射谱
参考文献
5纳米半导体光电性质尺寸效应分析
5.1纳米Si带隙量子尺寸效应补充说明
5.2III-V族半导体量子点尺寸效应分析
5.2.1InAs量子点带隙与尺寸关系
5.2.2InGaAs量子点带隙尺寸效应和合金化
5.2.3InAs量子点逸出功KFM测量
5.2.4含InP量子点InGaP/GaAs异质体系电子结构表征
5.3II-VI族化合物半导体纳米晶尺寸效应分析
5.3.1CdSe纳米晶光学特性尺寸效应
5.3.2CdTe纳米晶电子结构XES分析
5.3.3CdS/CdTe界面价带补偿XPS分析
5.3.4CdS纳米晶带结构尺寸效应
5.4Cu2S纳米棒的电子结构PD-XAS分析
参考文献